金相顯微鏡的特點(diǎn)及應(yīng)用-

金相顯微鏡的特點(diǎn)及應(yīng)用

微分干涉金相顯微鏡所運(yùn)用的是微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)，這種分析檢驗(yàn)方法所運(yùn)用的范圍也很廣，對(duì)于金屬檢測(cè)是*佳的顯微鏡選擇。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對(duì)被測(cè)物體的放大觀察的目的。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等以及對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。

金相顯微鏡對(duì)有對(duì)金相組織樣品的制備技術(shù)要求水平較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對(duì)較高層次發(fā)展關(guān)系問題突出，呈明顯的浮雕狀，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出自己正確的判斷，能夠更加容易通過判斷存在許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些經(jīng)濟(jì)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)或缺陷，可研究彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。

然而，目前金相檢驗(yàn)中很少采用DIC法。

微分干涉對(duì)比度(dIC)是金相檢驗(yàn)的有力工具，具有擁有屬性:

1、對(duì)金相樣品的制備要求降低，對(duì)于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可觀察。優(yōu)點(diǎn)是可以觀察到樣品表面的真實(shí)狀態(tài)，如將試樣拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變，不用腐蝕就可以觀察到馬氏體的相變浮凸。

2、所觀察到的表面形成具有非常明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對(duì)較高層次發(fā)展關(guān)系問題都能通過顯示設(shè)計(jì)出來，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能及時(shí)作出自己正確的判斷，提高了金相檢驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確性，同時(shí)也增加了各相間的反差。

當(dāng)用微分干涉相位對(duì)比法觀察樣品時(shí)，在亮場(chǎng)中看不到許多細(xì)節(jié)，并且通過微分干涉的對(duì)比度增強(qiáng)可以容易地判斷在亮場(chǎng)中難以區(qū)分的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷。

4.差分干涉相位對(duì)比法是在傳統(tǒng)正交偏振法的基礎(chǔ)上，巧妙地利用伍拉斯頓棱鏡改進(jìn)的 DIC 棱鏡和補(bǔ)色裝置(λ- 版) ，通過光學(xué)干涉使觀察到的樣品染上豐富的顏色，從而可以用彩色膠片或數(shù)碼產(chǎn)品(CCD 相機(jī)和數(shù)碼相機(jī))彩色金相攝影。

由于微分干涉相襯得效果與分析樣品細(xì)節(jié)的浮雕像以及文化色彩設(shè)計(jì)都是我們可以有效調(diào)節(jié)的，因而比正交偏光更為優(yōu)越。

微分干涉相襯法在材料通過金相分析檢驗(yàn)中的應(yīng)用：

用微分干涉相襯法觀察樣品時(shí)，在亮場(chǎng)中看不到許多細(xì)節(jié)，在亮場(chǎng)中可以看到一些難以區(qū)分的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，并且通過微分干涉可以增強(qiáng)對(duì)比度。 這樣就更容易在分析中做出判斷。

現(xiàn)代材料科學(xué)技術(shù)的發(fā)展要求對(duì)金相組織更精確的鑒別和分析，往往需要對(duì)微觀組織的形態(tài)、數(shù)量、分布、大小和面積等參數(shù)精確的統(tǒng)計(jì)分析，例如延性鑄鐵的球化度、珠光體(鐵素體)的含量、第二相粒子的幾何參數(shù)和分布等。